ZEISS METROTOM 1500

ZEISS METROTOM 1500

Jedan CT sistem. Brojne primene.​

Uz ZEISS METROTOM 1500 dobijate pristup naprednoj CT tehnologiji koja omogućava pouzdano otkrivanje unutrašnjih defekata putem akvizicije i merenja unutar materijala. Po čemu se ovaj CT izdvaja: Omogućava brza snimanja visoke rezolucije za male i velike delove – i sve između tih dimenzija

  • Skeniranje velikom brzinom
  • Detaljni kvalitet CT slike
  • Precizna metrologija (VDI/VDE 2630 1.3)
  • Opciona DAkkS sertifikacija
  • Kompaktne dimenzije

Prednosti

Bolji kvalitet slike
Bolji kvalitet slike

Bolji kvalitet slike

Visoka rezolucija i sledljiva tačnost​ ​

ZEISS METROTOM 1500 odlikuje izvanredan kvalitet slike koji jasno vizualizuje čak i sitne defekte. Kombinacija softvera AMMAR, BHC i hardverskog modula ZEISS scatterControl osigurava neosporno visok kvalitet snimaka. Tačnost ovog CT uređaja takođe je definisana u skladu sa smernicom VDI/VDE 2630.

Visok stepen metrološkog znanja kompanije ZEISS, implementiran i u CT tehnologiji, garantuje vam pouzdanu i preciznu mernu tehniku. Maksimalna dozvoljena greška merenja (MPE(SD)) od 4.5 + L/50 μm prema VDI/VDE 2630 list 1.3 je garantovana u celom mernom opsegu – za rezultate merenja u koje možete imati puno poverenje.

Svestranost sistema

Svestranost sistema

Pogodan za širok raspon delova i primena​

ZEISS METROTOM 1500 skenira male delove sa izuzetno visokom rezolucijom, kao i delove prečnika do 615 mm i visine 800 mm, kao kompletnu rekonstrukciju zapremine. Ova mogućnost je rezultat proširenog mernog opsega u oba pravca – horizontalnom i vertikalnom. Fleksibilna rendgenska cev sa fokalnom tačkom reda nekoliko mikrometara i maksimalnom snagom od 500 W omogućava skeniranje malih delova u izuzetno visokoj rezoluciji, dok se veliki delovi mogu skenirati za kratko vreme. Ovo čini sistem idealnim za mnoge primene

DAkkS kalibracija: Vaš put do pouzdanih merenja​

DAkkS kalibracija ​

Vaš put do pouzdanih merenja​

Viši standardi kvaliteta u automobilskoj, medicinskoj ili farmaceutskoj industriji često zahtevaju primenu akreditovanih CT inspekcijskih procedura. Ove kalibracije garantuju objektivno i standardizovano merenje delova u skladu sa smernicom VDI/VDE 2630 deo 1.3. DAkkS kalibracija je takođe dostupna za ZEISS METROTOM 1500 seriju industrijskih kompjuterskih tomografa. Iskoristite dodatnu vrednost: ostvarite uštede i izgradite veće poverenje kod vaših klijenata.

Pametan dizajn za ograničen prostor​

Pametan dizajn za ograničen prostor​

Najefikasnije korišćenje prostora​

Kompaktne dimenzije i inteligentan dizajn servisnih i pristupnih vrata omogućavaju fleksibilnu instalaciju, što omogućava integraciju CT sistema u mernu laboratoriju čak i pri ograničenom prostoru. U cilju maksimalnog iskorišćenja prostornih resursa, postigli smo veći merni opseg uz zadržavanje kompaktnih dimenzija: Inspekcija i merenje komponenti do visine od 870 mm unutar prostora od 3,7 × 1,8 metara – najbolji odnos performansi sistema i zauzete površine.

Inspekcija kompletnih komponenti​

Inspekcija kompletnih komponenti​

Optimalno rešenje za delove izrađene od različitih materijala​

Tradicionalnim mernim metodama, inspekcija skrivenih struktura moguća je tek nakon vremenski i finansijski zahtevnog procesa sukcesivnog uklanjanja slojeva komponente. Nasuprot tome, ZEISS METROTOM 1500 predstavlja industrijski kompjuterizovani tomografski sistem namenjen merenju i inspekciji celovitih komponenti od plastike, lakih metala, kao i bakra ili čelika.

ZEISS scatterControl​  ​
ZEISS METROTOM scatterControl

ZEISS scatterControl​

Izuzetan kvalitet CT slike​

Hardversko rešenje ZEISS scatterControl značajno unapređuje kvalitet slike ZEISS METROTOM 1500 minimiziranjem rasipanja artefakata tokom CT skeniranja. Ovo pojednostavljuje naredne korake obrade i analize podataka, omogućavajući još tačnije definisanje površina i identifikaciju defekata.

 Saznajte više o prednostima koje nudi ZEISS METROTOM 1500.

Kontrola kvaliteta za budućnost ​ ​

Kontrola kvaliteta za budućnost 
Merenje i inspekcija većih delova

Zahvaljujući uvećanom mernom opsegu, treća generacija ZEISS METROTOM 1500 omogućava inspekciju većih komponenti u samo jednom skeniranju: Zahvaljujući novom sistemu pozicioniranja, komponente visine do 870 mm se mogu smestiti u CT, bez potrebe za dodatnim repozicioniranjem.

Kompaktne dimenzije​

U pogledu transporta, instalacije, održavanja ili potrebnog prostora u laboratoriji kupca – manji sistem je uvek prednost. Dizajn kabine najvećeg industrijskog CT sistema kompanije ZEISS u potpunosti je optimizovan za efikasno korišćenje prostora, rezultirajući dimenzijama od samo 6,7 m2.

Udobnije rukovanje​

Prednja vrata omogućavaju operateru ulazak u sistem i služe kao pristupna tačka za servisiranje, što olakšava umetanje većih i težih komponenti. Ovakav dizajn omogućava operateru jednostavna, sigurna i precizna CT merenja. Zahvaljujući minimalnim zahtevima za dodatnim prostorom iznad, iza i sa strane, ZEISS METROTOM 1500 nudi veliku fleksibilnost pri montaži.

Primena

  • Industrijka grana

    Industrijka grana

    Idealan za komponente od lakih metala, kompozita, komponente izrađene od više materijala, plastične komponente i aditivno proizvedene komponente.

  • Vazduhoplovna turbina

    Avio industrija

    Odlično prilagođen za pouzdano skeniranje, na primer, lopatica od titanijuma, čelika ili kompozitnih materijala, u cilju ispunjavanja industrijskih standarda i bezbednosnih zahteva.

  • Ukosnica statora automobilskog motora

    Automobilska industrija

    Idealan za skeniranje pogonskih sklopova, komponenti instrument table i aluminijumskih odlivaka poput glava motora ili kućišta statora.

  • Medicina

    Medicina

    Precizno skeniranje medicinskih uređaja kao što su injektori, implantati, inhalatori ili pejsmejkeri.

  • Elektronska matična ploča

    Elektronska industrija

    Omogućava bezbedno skeniranje konektora, baterija, štampanih ploča i drugih električnih komponenti.

  • ZEISS INSPECT X-Ray Sveobuhvatna analiza CT podataka u 3D

    ZEISS INSPECT X-Ray​

    Sveobuhvatna 3D analiza CT podataka​

    Intuitivni analitički softver ZEISS INSPECT X-Ray omogućava potpunu 3D analizu CT podataka, bilo kroz automatizovane tokove rada ili prilagođene pristupe, uz jednostavnost korišćenja koja je pogodna čak i za početnike. Omogućava preciznu analizu geometrije, prisustva šupljina ili unutrašnjih struktura i sklopova. Individualni preseci slike omogućavaju vizualizaciju čak i najmanjih nesavršenosti. Takođe možete učitati podatke zapremine više komponenti u jedan projekat, izvršiti analizu trenda i uporediti rezultate sa CAD modelom – sve u okviru jednog softverskog rešenja.

  • ZEISS Automatsko otkrivanje defekata (ZADD)​

    ZEISS Automatsko otkrivanje defekata (ZADD)​

    Veštačka inteligencija u kompjuterizovanoj tomografiji​

    Dodatak ZADD u ZEISS INSPECT X-Ray softveru pouzdano, brzo i automatski detektuje čak i sitne i teško uočljive defekte. ZADD vrši detekciju, lokalizaciju i klasifikaciju ovih nesavršenosti ili anomalija, vršeći detaljnu analizu interpretacijom CT snimaka Dodatak sotveru je specijalno razvijen za primene kao što su livene komponente, delove izrađene injekcionim livenjem i štampane komponente.

  • ZEISS PiWeb Pretvorite kvalitetne podatke u relevantne rezultate​

    ZEISS PiWeb​

    Pretvorite kvalitetne podatke u relevantne rezultate​

    ZEISS PiWeb reporting, softver za izveštavanje i upravljanje podacima o kvalitetu pomaže u povezivanju rezultata metrologije iz različitih mernih procesa sa operativnim odlukama – za efikasno praćenje kvaliteta vaše proizvodnje i trenutni uvid u rezultate. Koristite ZEISS PiWeb za sprovođenje GR&R studija, centralizovano upravljanje podacima o kvalitetu, integraciju ručno unetih podataka, kreiranje napredne statistike i koristite prednosti raznovrsnih standardnih šablona za izveštaje.

Karakteristike ZEISS METROTOM OS

Softverska rešenja za efikasne CT skenove 

  • Napredno smanjenje artefakata kod mešovitih materijala (AMMAR)​

    Napredno smanjenje artefakata kod mešovitih materijala (AMMAR)​

    Uočite više detalja na vašim komponentama, posebno na prelazima između metalnih i plastičnih delova: AMMAR proces korekcije efikasno minimizira artefakte koji se javljaju pri skeniranju delova izrađenih od različitih materijala i debljina, što je posebno značajno kod komponenti poput konektora sa kombinacijom metala i plastike.

  • Virtuelno horizontalno proširenje detektora (VHD)​

    Virtuelno horizontalno proširenje detektora (VHD)​

    Merenje radnih komada čija je širina veća od dimenzija detektora: VHD tehnologija povećava mogući prečnik mernog volumena vaših snimaka i do 80 %. Omogućava skeniranje delova znatno veće širine od detektora ili skeniranje manjih delova sa manjom veličinom voksela, čime se postiže veća rezolucija.

  • VolumeMerge​

    VolumeMerge​

    Zahvaljujući visoko preciznom sistemu pozicioniranja, zasnovanom na našem znanju iz oblasti taktilne metrologije, sada je moguće rekonstruisati komponente visine do 870 mm. Kao rezultat toga, velike komponente se mogu kompletno snimiti u jednom automatizovanom ciklusu, čime se izbegava vremenski zahtevno ponovno pozicioniranje i manuelno poravnavanje.

  • ShortScan​

    ShortScan​

    ShortScan predstavlja metodu akvizicije podataka gde se komponenta rotira za nešto više od 180 stepeni, za razliku od standardne pune rotacije. Ova tehnika vam omogućava da akvizirate podatke o određenim zonama delova sa poboljšanom rezolucijom, koja bi inače bila ograničena geometrijom pune rotacije.

  • Separacija​  ​

    Separacija​ ​

    Funkcija automatske separacije povećava produktivnost procesa skeniranjem više delova u jednom ciklusu i njihovom nezavisnom, automatskom analizom, čime se značajno skraćuje vreme skeniranja i smanjuje angažman operatera.

ZEISS METROTOM porodica​

Preuzimanja



Obratite nam se​

Da li ste zainteresovani za dalje istraživanje naših proizvoda ili usluga? Radujemo se što možemo da vam pružimo više detalja ili demonstraciju uživo, bilo na daljinu ili lično.​

Da li vam je potrebno više informacija?

Kontaktirajte nas. Naši stručnjaci će vam se javiti.

Obrazac se učitava...

/ 4
Sledeći korak:
  • Upit o interesovanju
  • Lični podaci
  • Podaci o kompaniji

Za više informacija o obradi podataka u kompaniji ZEISS, molimo vas da pogledate naše obaveštenje o zaštiti podataka.