ZEISS scatterControl

Izuzetan kvalitet CT slike

Hardversko rešenje za optimizovani kvalitet slike

Modul ZEISS scatterControl značajno poboljšava kvalitet slike i minimizuje artefakte nastale raspršenjem pri CT skeniranju. Ova poboljšanja olakšavaju naknadnu obradu podataka i evaluacione korake za odgovarajuće delove, omogućavajući još preciznije određivanje površina i analizu defekata. Proizvod je idealan za delove velikog volumena i visoke gustine, kao što su aditivno proizvedeni metalni delovi i aluminijumski liveni delovi, čak i sa čeličnim umetcima, kao i za druge sklopove koji sadrže gušće materijale.

Modul je dostupan za ZEISS METROTOM 1500 225kV G3, bilo kao nadogradnja ili kao deo kupovine novog sistema. Nadogradite svoj sistem uz ZEISS scatterControl i iskoristite vrhunski kvalitet slike za jednostavniju i precizniju evaluaciju podataka.

Koje prednosti vam donosi ZEISS scatterControl

  • Bolji kvalitet slike, bolja detekcija defekata

    ZEISS scatterControl značajno unapređuje kvalitet CT slike, minimizujući artefakte nastale raspršenim zračenjem. Povećan kontrast između različitih komponenti olakšava detekciju defekata: Oblasti delova koje je ranije bilo gotovo nemoguće oceniti sada su dostupni za analizu.

  • Poboljšano određivanje površinskih karakteristika

    ZEISS scatterControl unapređuje ne samo detekciju defekata, već i celokupnu preciznost određivanja površinskih karakteristika. Ovo predstavlja značajnu prednost za metrološke primene na zahtevnim delovima, gde artefakti, ukoliko se ne isprave, ometaju proces određivanja površina.

  • Brzo skeniranje u VAST režimu

    ZEISS scatterControl funkcioniše i sa „Stop and Go“ režimom i sa VAST skeniranjem. Uz scatterControl rešenje, CT skeniranje sa konusnim snopom dostiže kvalitet slike sličan CT skeniranju sa lepezastim snopom, ali sa vremenima skeniranja koja su i do 1000 puta kraća.

  • Laka upotreba

    ZEISS scatterControl predstavlja rešenje koje se aktivira jednim klikom. Modul besprekorno funkcioniše uz ostale napredne funkcije METROTOM OS softvera, kao što su VHD (Virtual Horizontal Detector Extension), AMMAR (Advanced Mixed Material Artifact Reduction) i VolumeMerge, i potpuno je integrisan u sistem.

ZEISS scatterControl za bolju analizu defekata

ZEISS scatterControl značajno unapređuje kvalitet CT slike pri skeniranju različitih delova i u brojnim industrijskim primenama. Postoji niz jasnih razloga zašto je ZEISS scatterControl idealan izbor, od efikasnog uklanjanja artefakata do optimalnog pozicioniranja modula u odnosu na radni komad. Kako možete da koristite ovaj modul za precizno otkrivanje i analizu defekata, saznajte u tekstu u nastavku.

Smanjeni artefakti za poboljšani kvalitet CT slike

ZEISS scatterControl pravi vidljivu razliku u kvalitetu CT slike. Pomoću klizača uporedite kvalitet rendgenske slike sa i bez scatterControl modula. Poboljšana slika prikazuje veći kontrast i značajno manje artefakata, što omogućava jasnije isticanje detalja.

Superioran kvalitet slike zahvaljujući optimalnom pozicioniranju modula

ZEISS scatterControl postiže superioran kvalitet u poređenju sa sličnim rešenjima zahvaljujući principu rada modula: Pozicioniran je između cevi i detektora. Manji objekti, poput gustih aditivno proizvedenih delova se idealno postavljaju ispred modula, dok se veći radni komadi smeštaju iza njega. Funkcioniše na oba načina. Pored toga, integrisani fizički senzor sudara i napredni softver za predikciju efikasno sprečavaju moguće kolizije.

Idealno rešenje za širok spektar delova i industrijskih primena

  • Livnica: Masivni delovi od aluminijuma ili magnezijuma, uključujući komponente sa čeličnim umetcima
  • Automobilska industrija: Liveni delovi sa čeličnim umetcima i delovi elektronike snage
  • Aditivna proizvodnja: Gusti, metalno-štampani delovi

Poboljšana 3D inspekcija

Poboljšanja zapreminskih podataka omogućavaju znatno jednostavniju evaluaciju. 3D površine se mogu precizno odrediti i prikazati bez ometajućih artefakata. Mnogi artefakti nastaju usled raspršenog zračenja i dovode do pojave pseudo 3D površina koje ometaju precizna merenja.

Pouzdano softversko rešenje za evaluaciju u rendgenskoj inspekciji

ZEISS Automated Defect Detection (ZADD) softver pouzdano otkriva čak i najsitnije nedostatke – bilo da se radi o komponentama izrađenih metodom brizganja, medicinskim, aditivno proizvedenim komponentama i drugim primenama.

Često postavljana pitanja o ZEISS scatterControl

  • Među delovima koji najviše koriste prednosti ZEISS scatterControl tehnologije nalaze se masivni aluminijumski i magnezijumski odlivci, komponente sa čeličnim umetcima, delovi elektronike snage i gusti metalno-štampani proizvodi.

  • ZEISS scatterControl predstavlja rešenje koje se aktivira jednim klikom. Zaštita od sudara, kako softverska tako i hardverska, već je integrisana, što vam omogućava da odmah započnete proces skeniranja bez dodatnih priprema.

  • Da, ZEISS scatterControl je idealno rešenje za naknadnu ugradnju za ZEISS METROTOM 1500 G3. Da biste u potpunosti iskoristili prednosti scatterControl modula, vaš CT sistem će možda zahtevati određena ažuriranja, uključujući i ona za METROTOM OS.

Obratite nam se​

Da li ste zainteresovani za dalje istraživanje naših proizvoda ili usluga? Radujemo se što možemo da vam pružimo više detalja ili demonstraciju uživo, bilo na daljinu ili lično.​

Da li vam je potrebno više informacija?

Kontaktirajte nas. Naši stručnjaci će vam se javiti.

Obrazac se učitava...

/ 4
Sledeći korak:
  • Upit o interesovanju
  • Lični podaci
  • Podaci o kompaniji

Za više informacija o obradi podataka u kompaniji ZEISS, molimo vas da pogledate naše obaveštenje o zaštiti podataka.